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在材料高溫性能研究、相變機理分析等領域，傳統外部加熱手段往往無法實現微區精準控溫與實時觀測的結合。國儀量子聯合中國科學技術大學微納中心，自主研制原位加熱芯片解決方案，通過MEMS加熱芯片與雙束電鏡的深度融合，實現樣品在室溫至1100℃范圍內的精準控溫與微觀動態分析，為高溫環境下材料行為研究提供全新工具。該方案采用國儀自研雙束電鏡與專用MEMS加熱芯片，控溫精度優于0.1℃，測溫分辨率優于0.1℃，同時具備溫度均勻性好、紅外輻射少等優勢，有效保障高溫下的分析穩定性。系統支持在加...

在材料分析與表征領域，單一技術往往難以同時獲取納米尺度的形貌與分子級別的化學信息。國儀量子創新推出電鏡-拉曼聯用解決方案，實現掃描電鏡高分辨率成像與拉曼光譜化學分析的真正原位融合，為多維度材料研究提供強大工具。國儀量子電鏡-拉曼聯用解決方案通過光路優化與系統集成兩種方式，在同一平臺完成微區定位、形貌觀測與拉曼檢測，徹底解決傳統跨設備分析中的定位誤差問題。用戶可在SEM圖像中精準鎖定目標區域（如缺陷、界面、納米顆粒），直接激發拉曼激光，同步獲取成分、物相、應力分布等化學結構信息...

在半導體制造邁向更精細工藝的時代，晶圓級缺陷分析、失效定位與微納加工已成為提升良率的關鍵環節。國儀量子推出8英寸晶圓雙束全尺寸加工解決方案，集高分辨率成像與精準離子束加工于一體，實現對晶圓的“觀測-分析-切割”全流程覆蓋，為半導體先進制程提供強大技術支撐。該方案搭載150mm大行程高精度樣品臺，可支持8英寸晶圓全域無損觀測與加工，配合外置光學導航系統與智能防碰撞算法，實現晶圓的快速、精準定位與安全操作。系統配備肖特基場發射電子槍，分辨率達0.9nm@15kV，離子束分辨率達3...

在半導體制造邁向更精細工藝節點的今天，晶圓缺陷檢測已成為決定良率與性能的關鍵。國儀量子推出新一代12寸晶圓掃描電鏡解決方案，以突破性技術實現晶圓全域、無需轉動與傾斜、無損、高分辨率檢測，為先進制程提供堅實支撐。該方案配備超大行程樣品臺（X/Y≥300mm），可全面覆蓋12寸晶圓，無需切割或轉移樣品，真正實現“原尺寸、原位置”觀測。系統搭載肖特基場發射電子槍，在15kV下分辨率達1.0nm，即便在1kV低電壓下仍保持1.5nm超高分辨率，極大降低電子束損傷，尤其適用于敏感結構與...

在生命科學、生物醫藥、食品檢驗及軟物質研究領域，對含水樣品、電子束敏感材料進行高分辨率成像始終面臨巨大挑戰。傳統制樣方法中的化學固定、脫水、干燥等過程極易導致樣品收縮、變形或結構破壞，使觀測結果偏離真實狀態。國儀量子依托先進的掃描電鏡技術，推出冷凍傳輸電鏡方案（Cryo-SEM），以低溫冷凍與真空傳輸為核心，實現對生物及敏感樣品原位、無損、高保真的顯微觀察，真正“凍結”生命微觀細節。該方案通過液氮泥快速冷凍技術，可在-210℃條件下瞬間固定樣品，最大限度保留其原始形態與化學成...